薄膜的厚度是否均勻是檢驗薄膜性能的依據(jù)，顯然，如果一批單層薄膜的厚度不均勻，不僅會影響薄膜的抗拉強(qiáng)度和阻隔性能，還會影響薄膜的后續(xù)加工。此外，合理控制產(chǎn)品厚度，不僅可以提高產(chǎn)品質(zhì)量，還可以降低材料消耗，提高生產(chǎn)效率。因此，薄膜厚度是否均勻，是否與預(yù)設(shè)值一致，厚度偏差是否在范圍內(nèi)，都是薄膜能否具備一些特性指標(biāo)的重要前提。薄膜測厚儀薄膜厚度測量是薄膜制造行業(yè)的基本檢測項目之一。

　　

　　薄膜測厚儀采用機(jī)械接觸測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)測量范圍內(nèi)的塑料薄膜、片材、隔膜、紙張、箔片、硅片等材料的厚度。采用機(jī)械接觸測量原理，截取一定尺寸的圖案；通過控制面板上的按鈕調(diào)整測頭落在圖案上；材料的厚度是通過兩個接觸面產(chǎn)生的壓力和傳感器測量的兩個接觸面積來測量的。